نقد و بررسی
رویه نگار اپتیکی به روش تداخل نور سفید
کاربرد
- اندازهگیری توپوگرافی سطحی با دقت در مرتبه نانومتر – اندازه گیری توپوگرفی سطحی ، مورفولوژی سطحی ، ضخامت لایه های نانومتری و میکرومتری – اندازه گیری زبری و فرم سطوح
معرفی
این دستگاه با استفاده از تکنولوژی تداخل سنجی نور سفید به بررسی رویه اجسام می پردازد )شکل 1( به این صورت که با ترکیب منبع نور سفید، سیستم اپتیکی و سنسور CCD فاصله شیئی تا اجسام مشخص می شود.
بازه ی اندازهگیری این روش از مرتبهی نانومتر تا میلیمتر است. دقت اندازهگیری در این روش وابسته به همدوسی منبع نور، دقت و تکرارپذیری استیج عمودی، مقاومت در برابر لرزش، بازتابپذیری و زبری سطح نمونه، و خطای سنسور CCD است. با در نظر گرفتن تمامی این فاکتورها دستگاه MOA-ZA دارای دقت 5 نانومتر است.
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.